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doi:10.22028/D291-37569 | Titel: | Compensation of siloxane poisoning of metal oxide semi-conductor gas sensors in temperature cycled operation |
| VerfasserIn: | Schultealbert, Caroline Baur, Tobias Sauerwald, Tilman Schütze, Andreas |
| HerausgeberIn: | Gerlach, Gerald Sommer, Klaus-Dieter |
| Sprache: | Englisch |
| Titel: | SMSI 2020 : Sensor and Measurement Science International : 22-25 June 2020, Nuremberg, Germany |
| Seiten: | 197-198 |
| Verlag/Plattform: | AMA Service GmbH |
| Erscheinungsjahr: | 2020 |
| Erscheinungsort: | Wunstorf |
| Konferenzort: | Nürnberg, Germany |
| Freie Schlagwörter: | metal oxide semiconductor gas sensor siloxanes poisoning stability |
| DDC-Sachgruppe: | 600 Technik |
| Dokumenttyp: | Konferenzbeitrag (in einem Konferenzband / InProceedings erschienener Beitrag) |
| Abstract: | We present a method for quantifying the degradation state due to siloxane poisoning of a metal oxide semiconductor gas sensor using temperature cycled operation. The time constant for the generation of surface charge at high temperature increases through poisoning and is only slightly dependent on the gas atmosphere. In addition to indicating a necessary sensor replacement, this signal can also be used for drift compensation based on the exponential relation between sensor signal and this time constant. |
| DOI der Erstveröffentlichung: | 10.5162/SMSI2020/P1.2 |
| URL der Erstveröffentlichung: | https://www.ama-science.org/proceedings/details/3709 |
| Link zu diesem Datensatz: | urn:nbn:de:bsz:291--ds-375698 hdl:20.500.11880/33993 http://dx.doi.org/10.22028/D291-37569 |
| ISBN: | 978-3-9819376-2-6 |
| Datum des Eintrags: | 13-Okt-2022 |
| Fakultät: | NT - Naturwissenschaftlich- Technische Fakultät |
| Fachrichtung: | NT - Systems Engineering |
| Professur: | NT - Prof. Dr. Andreas Schütze |
| Sammlung: | SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes |
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