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Title: Siloxan-Behandlung von Halbleitergassensoren im temperaturzyklischen Betrieb – Sensitivität und Selektivität
Author(s): Schultealbert, Caroline
Uzun, Iklim
Baur, Tobias
Schütze, Andreas
Sauerwald, Tilman
Language: German
Title: 14. Dresdner Sensor-Symposium 2019
Pages: 176-181
Publisher/Platform: AMA Service GmbH
Year of Publication: 2019
Place of publication: Wunstorf
Place of the conference: Dresden, Germany
DDC notations: 600 Technology
Publikation type: Conference Paper
Abstract: Siloxan-Verbindungen schädigen in hohen Dosen die Funktion von Halbleitergassensoren, was gemeinhinals Vergiftung bezeichnet wird [1]. Da Siloxan-Verbindungen weit verbreitet sind und beispielsweise in einer Vielzahl von Körperpflegeprodukten eingesetzt werden [2], ist es notwendig die Schädigungsmechanismen zu kennen und entsprechende Gegenmaßnahmen (Sensortausch, Kompensation, Rekalibrierung…) vorzunehmen. Darüber hinaus kann mit Siloxanen die Selektivität auf Wasserstoff erhöht werden, da die Sensitivität auf Wasserstoff deutlich weniger abnimmt als die anderer Gase [3,4]. Bei geringe Siloxandosis kann zunächst eine Erhöhung der Sensitivität beobachtet werden [5]. Während bei konstanter Sensortemperatur die Auswirkung von Siloxanen auf das Sensorverhalten bereits untersucht worden ist [6,7], sind Auswirkungen auf Sensoren im temperaturzyklischen Betrieb (engl. temperature cycled operation, TCO) hingegen bis jetzt wenig untersucht: Erste Arbeiten zeigen aber, dass unter bestimmten Bedingungen diese Betriebsweise weniger anfällig für Vergiftung ist [8]. Die quantitative Auswertung auf Basis der differentiellen Oberflächenreduktion (engl. differential surface reduction, DSR, [9-11]) wurde bis jetzt nicht hinsichtlich Stabilität gegenüber Siloxanen untersucht. Für den Einsatz dieser Betriebsart in Anwendungen ist Kenntnis über die zu erwartenden Auswirkungen jedoch unabdingbar. ...
DOI of the first publication: 10.5162/14dss2019/P2.04
URL of the first publication: https://www.ama-science.org/proceedings/details/3545
Link to this record: urn:nbn:de:bsz:291--ds-375987
hdl:20.500.11880/34013
http://dx.doi.org/10.22028/D291-37598
ISBN: 978-3-9819376-1-9
Date of registration: 14-Oct-2022
Faculty: NT - Naturwissenschaftlich- Technische Fakultät
Department: NT - Systems Engineering
Professorship: NT - Prof. Dr. Andreas Schütze
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