Please use this identifier to cite or link to this item: doi:10.22028/D291-37428
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Title: Selektive Quantifizierung von Schwefelverbindungen mit MOS-Sensoren
Author(s): Schultealbert, Caroline
Schütze, Andreas
Sauerwald, Tilman
Editor(s): Reindl, Leonhard M.
Wöllenstein, Jürgen
Language: German
Title: Sensoren und Messsysteme : Beiträge der 19. ITG/GMA-Fachtagung 26.-27. Juni 2018 in Nürnberg
Pages: 106-109
Publisher/Platform: VDE-Verlag
Year of Publication: 2018
Place of publication: Berlin
Place of the conference: Nürnberg, Germany
DDC notations: 620 Engineering and machine engineering
Publikation type: Conference Paper
Abstract: Während der temperaturzyklische Betrieb (TCO) bisher primär zur Verbesserung der Selektivität eingesetzt wurde, soll im Rahmen dieser Studie die Quantifizierung speziell von H2S im Konzentrationsbereich von 50-400 ppb untersucht werden. Der Metalloxid-Gassensor wird dabei zunächst 5 s bei 450 °C betrieben, gefolgt von 20 s bei 150 °C. Aus der Steigung des logarithmierten Leitwerts über die Zeit und der Bandverbiegung des Sensors für ein einfaches Korngrenzenmodell lässt sich die Ratenkonstante kgas für die differentielle Reduktion der Sensoroberfläche (DSR) bestimmen. Über diese Ratenkonstante ist es möglich, die H2S Konzentration unabhängig von häufig auftretenden Störgasen wie H2 und CH4 zu bestimmen. Eine Veränderung der H2 und CH4 Konzentration verursacht eine starke Änderung des Leitwerts über den gesamten Temperaturzyklus. Außerdem führt eine dauerhafte Exposition großer Konzentrationen reduzierender Gase wie CH4 zu einer Drift des Leitwerts. Die Ratenkonstante bei 150 °C ist davon allerdings nicht betroffen. Eine Quantifizierung über den Leitwert direkt (Wert am Ende der 150 °C-Stufe) ist aufgrund der verschiedenen Drifteffekte wenig erfolgversprechend. Die berechnete Ratenkonstante erlaubt dagegen eine lineare Quantifizierung von H2S im betrachteten Konzentrationsbereich unabhängig von der CH4- und H2-Hintergrundkonzentration.
URL of the first publication: https://www.vde-verlag.de/proceedings-de/454683021.html
Link to this record: urn:nbn:de:bsz:291--ds-374280
hdl:20.500.11880/33857
http://dx.doi.org/10.22028/D291-37428
ISBN: 978-3-8007-4866-2
978-3-8007-4683-5
Date of registration: 28-Sep-2022
Faculty: NT - Naturwissenschaftlich- Technische Fakultät
Department: NT - Systems Engineering
Professorship: NT - Prof. Dr. Andreas Schütze
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