Bitte benutzen Sie diese Referenz, um auf diese Ressource zu verweisen: doi:10.22028/D291-24809
Titel: Quantitative spectrochemical analysis of Na3AIF6, ZrSiO4 and InSb with the analytical electron microscope (TEM & SEM)
Verfasser: Krajewski, Thomas
Sonstige beteiligte Körperschaft: INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Sprache: Englisch
Erscheinungsjahr: 2007
Quelle: Jahresbericht ... / Leibniz-Institut für Neue Materialien = Annual report ... / Leibniz Institute for New Materials. - 2006 (2007), S. 86-90
SWD-Schlagwörter: Analytische Elektronenmikroskopie
DDC-Sachgruppe: 530 Physik
Dokumentart : Journalartikel
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-34647
hdl:20.500.11880/24865
http://dx.doi.org/10.22028/D291-24809
SciDok-Publikation: 7-Apr-2011
Fakultät: Sonstige Einrichtungen
Fachrichtung: SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Fakultät / Institution:INM
SE - Sonstige Einrichtungen

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
inm200758.pdf209,23 kBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.