Bitte benutzen Sie diese Referenz, um auf diese Ressource zu verweisen: doi:10.22028/D291-24796
Titel: Kelvin probe force microscopy of charged indentation-induced dislocation structures in KBr
Verfasser: Egberts, Philip
Bennewitz, Roland
Sonstige beteiligte Körperschaft: INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Sprache: Englisch
Erscheinungsjahr: 2009
Quelle: Jahresbericht ... / Leibniz-Institut für Neue Materialien = Annual report ... / Leibniz Institute for New Materials. - 2008 (2009), S. 33-37
SWD-Schlagwörter: Versetzung <Kristallographie>
Mikroskopie
DDC-Sachgruppe: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Dokumentart : Journalartikel
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-34490
hdl:20.500.11880/24852
http://dx.doi.org/10.22028/D291-24796
SciDok-Publikation: 23-Mär-2011
Fakultät: Sonstige Einrichtungen
Fachrichtung: SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Fakultät / Institution:INM
SE - Sonstige Einrichtungen

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
inm200940.pdf164,87 kBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.