Bitte benutzen Sie diese Referenz, um auf diese Ressource zu verweisen: doi:10.22028/D291-24148
Titel: Characterization of sol-gel thin films of TiO2-PbO, TiO2-Bi2O3 and TiO2-CeO2 compositions
Verfasser: Aegerter, Michel A.
La Serra, Eliane R.
Martins Rodrigues, Ana Candida
Kordas, George
Moore, Glenn
Sprache: Englisch
Erscheinungsjahr: 1990
Quelle: Sol-gel optics : 11 - 13 July 1990, San Diego, California / John D. Mackenzie... ed. - Bellingham, Wash. : SPIE, 1990. - (SPIE proceedings series ; 1328), S.391-414
SWD-Schlagwörter: Einfachschichtpotenzial
Sol-Gel-Verfahren
Mehrschichtleiterplatte
Mehrschichtsystem
Dünne Schicht
Tauchbeschichten
Röntgendiffraktometrie
DDC-Sachgruppe: 500 Naturwissenschaften
Dokumentart : InProceedings (Aufsatz / Paper einer Konferenz etc.)
Kurzfassung: Single and multilayer sol-gel thin films of TiO2-PbO, TiO2-Bi2O3 and TiO2-CeO2 composition were deposited on glasses using the dip coating technique. The precursors included Ti(OPr(i))4 chemically modified by acetyl acetone and diluted in Pr(i)OH and sols of Pb(OAc)2, Bi(NO3)3 5H2O diluted in acetic acid. The TiO2-CeO2 sol was prepared by mixing Ce(NH4)2(NO3)6 in ethanol and then adding Ti(O-iso-C3H7)4. Structure texture and homogeneity of their main constituents was established by XRD, XPS, SIMS and SEM-EDX techniques as a function of heat treatments.
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-23059
hdl:20.500.11880/24204
http://dx.doi.org/10.22028/D291-24148
SciDok-Publikation: 20-Aug-2009
Fakultät: Sonstige Einrichtungen
Fachrichtung: SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Fakultät / Institution:INM
SE - Sonstige Einrichtungen

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