Bitte benutzen Sie diese Referenz, um auf diese Ressource zu verweisen: doi:10.22028/D291-24062
Titel: Photothermal deflection spectroscopy for ultra trace analysis of cobalt and copper ions
Verfasser: De Paula, Mauro H.
Aegerter, Michel A.
Sprache: Englisch
Erscheinungsjahr: 1986
Quelle: Analytical letters. - 19. 1986, 3/4, S. 251-265
SWD-Schlagwörter: Spurenanalyse
Optothermische Spektroskopie
Cobalt
Kupfer
DDC-Sachgruppe: 500 Naturwissenschaften
Dokumentart : Journalartikel
Kurzfassung: Photothermal deflection spectroscopy was applied for the abs. detn. At room temp. of ultra trace concn. of Co and Cu ions in aq. soln. The samples were prepd. by percolating 2 L of soln. prepd. from Merck Titrisol Stds. in 200 mg Merck-I cation-exchange resin. With the present exptl. conditions, the detection limit is 20 ppb for Cu and 200 ppb for Co ions within an overall accuracy of 5%. The response of the spectrometer was calibrated by using the inductively coupled plasma technique.
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-22624
hdl:20.500.11880/24118
http://dx.doi.org/10.22028/D291-24062
SciDok-Publikation: 3-Jul-2009
Fakultät: Sonstige Einrichtungen
Fachrichtung: SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Fakultät / Institution:INM
SE - Sonstige Einrichtungen

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