Please use this identifier to cite or link to this item: doi:10.22028/D291-30210
Title: 3D exemplar-based image inpainting in electron microscopy
Author(s): Trampert, Patrick
Language: English
Year of Publication: 2019
DDC notations: 004 Computer science, internet
Publikation type: Doctoral Thesis
Abstract: In electron microscopy (EM) a common problem is the non-availability of data, which causes artefacts in reconstructions. In this thesis the goal is to generate artificial data where missing in EM by using exemplar-based inpainting (EBI). We implement an accelerated 3D version tailored to applications in EM, which reduces reconstruction times from days to minutes. We develop intelligent sampling strategies to find optimal data as input for reconstruction methods. Further, we investigate approaches to reduce electron dose and acquisition time. Sparse sampling followed by inpainting is the most promising approach. As common evaluation measures may lead to misinterpretation of results in EM and falsify a subsequent analysis, we propose to use application driven metrics and demonstrate this in a segmentation task. A further application of our technique is the artificial generation of projections in tiltbased EM. EBI is used to generate missing projections, such that the full angular range is covered. Subsequent reconstructions are significantly enhanced in terms of resolution, which facilitates further analysis of samples. In conclusion, EBI proves promising when used as an additional data generation step to tackle the non-availability of data in EM, which is evaluated in selected applications. Enhancing adaptive sampling methods and refining EBI, especially considering the mutual influence, promotes higher throughput in EM using less electron dose while not lessening quality.
Ein häufig vorkommendes Problem in der Elektronenmikroskopie (EM) ist die Nichtverfügbarkeit von Daten, was zu Artefakten in Rekonstruktionen führt. In dieser Arbeit ist es das Ziel fehlende Daten in der EM künstlich zu erzeugen, was durch Exemplar-basiertes Inpainting (EBI) realisiert wird. Wir implementieren eine auf EM zugeschnittene beschleunigte 3D Version, welche es ermöglicht, Rekonstruktionszeiten von Tagen auf Minuten zu reduzieren. Wir entwickeln intelligente Abtaststrategien, um optimale Datenpunkte für die Rekonstruktion zu erhalten. Ansätze zur Reduzierung von Elektronendosis und Aufnahmezeit werden untersucht. Unterabtastung gefolgt von Inpainting führt zu den besten Resultaten. Evaluationsmaße zur Beurteilung der Rekonstruktionsqualität helfen in der EM oft nicht und können zu falschen Schlüssen führen, weswegen anwendungsbasierte Metriken die bessere Wahl darstellen. Dies demonstrieren wir anhand eines Beispiels. Die künstliche Erzeugung von Projektionen in der neigungsbasierten Elektronentomographie ist eine weitere Anwendung. EBI wird verwendet um fehlende Projektionen zu generieren. Daraus resultierende Rekonstruktionen weisen eine deutlich erhöhte Auflösung auf. EBI ist ein vielversprechender Ansatz, um nicht verfügbare Daten in der EM zu generieren. Dies wird auf Basis verschiedener Anwendungen gezeigt und evaluiert. Adaptive Aufnahmestrategien und EBI können also zu einem höheren Durchsatz in der EM führen, ohne die Bildqualität merklich zu verschlechtern.
Link to this record: urn:nbn:de:bsz:291--ds-302108
hdl:20.500.11880/28792
http://dx.doi.org/10.22028/D291-30210
Advisor: Slusallek, Philipp
Date of oral examination: 13-Jan-2020
Date of registration: 27-Feb-2020
Faculty: MI - Fakultät für Mathematik und Informatik
Department: MI - Informatik
Professorship: MI - Prof. Dr. Philipp Slusallek
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