Bitte benutzen Sie diese Referenz, um auf diese Ressource zu verweisen: doi:10.22028/D291-24282
Titel: A microstructural zone model for the morphology of sol-gel coatings
Verfasser: Schuler, Thomas
Krajewski, Thomas
Grobelsek, Ingrid
Aegerter, Michel A.
Sprache: Englisch
Erscheinungsjahr: 2004
Quelle: Journal of sol-gel science and technology. - 31. 2004, 1-3, S. 235-239
SWD-Schlagwörter: Röntgenbeugung
Morphologie
Tauchbeschichten
Einfachschichtpotenzial
Mikrostruktur
Mehrschichtsystem
PVD-Verfahren
CVD-Verfahren
DDC-Sachgruppe: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Dokumentart : Journalartikel
Kurzfassung: The thickness and the morphology of dip-coated single sol-gel layers is easily controlled by varying the sol compositions and the deposition parameters. A thorough study of the microstructure of transparent conducting ZnO: Al coatings deposited on fused silica substrates using X-ray diffraction, X-ray reflectometry and transmission electron microscopy cross-sections as well as of In2O3: Sn, SnO2: Sb, ZnO and TiO2 coatings reported in the literature shows that three basic morphologies can be observed: granular, layered and columnar. In multilayer systems they were found to depend essentially on the single layer thickness (SLT) and on the crystallite size determined from the data of thick films, a parameter called the "intrinsic crystallite size (ICS)". All the results so far analysed are in agreement with a 3-zone model when ICS is plotted against SLT or in a more refined version when q = ICS/SLT is plotted against the homologous temperature T-sintering/T-melting. Comparison with the Movchan-Demchishin and Polley-Carter models proposed for PVD and CVD coatings, respectively, is presented.
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-25312
hdl:20.500.11880/24338
http://dx.doi.org/10.22028/D291-24282
SciDok-Publikation: 22-Dez-2009
Fakultät: Sonstige Einrichtungen
Fachrichtung: SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien
Fakultät / Institution:INM
SE - Sonstige Einrichtungen

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
aeg200418.pdf179,08 kBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.